本产品满足GB/T19394.-2003试验; GB/T9535.-1998试验; GB/T6492-1986、GB/T6494、GB/T6497、 SJ/T2196; IEC61345-1998; IEC61646、IEC61215等国家标准,以及其它相关标准的要求。 严格按GB 10592—89《高低温试验箱技术条件》、GB10586-89《湿热试验箱技术条件》进行设计制造,同时符合IEC61215-2005温度,湿热相应标准参数可进行各种高低温湿热交变环境试验。 矽晶太陽能: IEC61215、 UL1703、GB9535 薄膜太陽能: IEC61646 、GB18911 聚光太陽能: IEC62108 、 IEEE1513※ 相關試驗後皆須進行規範所要求的檢查項目(外觀、絕緣電阻、最大輸出功率)Thermal cycle test(溫度循環測試)目的:確定元件於溫度重複變化時,引起的疲勞和其他應力的熱失效。
溫度循環比較 |
低溫 |
高溫 |
溫變率 |
駐留時間 |
循環數 |
IEC61215 |
-40±2℃ |
85±2℃ |
最大100℃/h |
最少10min |
50、200 |
GB9535 |
-40±2℃ |
85±2℃ |
最大100℃/h |
最少10min |
50、200 |
IEC61646 |
-40±2℃ |
85±2℃ |
最大100℃/h |
最少10min |
50、200 |
GB18911 |
-40±2℃ |
85±2℃ |
最大100℃/h |
最少10min |
50、200 |
UL1703 |
-40±2℃ |
90±2℃ |
最大120℃/h |
30~105min |
200 |
IEC62108 |
-40±2℃ |
65℃、85℃、110℃ |
10cycle/day |
10min |
500、1000、2000 |
IEC62108 |
-40℃ |
65℃、85℃、110℃ |
18cycle/day |
10min |
500、1000、2000 |
IEEE1513 |
-40℃ |
90℃、110℃ |
0.9~7.5℃/min |
最少10min |
250、500 |
IEEE1513 |
-40℃ |
90℃、110℃ |
最大100℃/h |
最少10min |
100、200 |
IEEE1513 |
-40℃ |
60℃、90℃ |
最大100℃/h |
最少10min |
50、200 |
Humidity-freeze test(濕冷凍測試) 目的:確定元件承受高溫、高濕之後以及隨後的零下溫度影響的能力。
溫度循環比較 |
高溫高濕 |
低溫 |
溫變率 |
循環數 |
IEC61215 |
85℃/85±5%(20h) |
-40℃(0.5~4h) |
高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) |
10 |
GB9535 |
85℃/85±5%(20h) |
-40℃(0.5~4h) |
高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) |
10 |
IEC61646 |
85℃/85±5%(20h) |
-40℃(0.5~4h) |
高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) |
10 |
GB18911 |
85℃/85±5%(20h) |
-40℃(0.5~4h) |
高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) |
10 |
UL1703 |
85℃/85±2.5%(20h) |
-40℃(0.5~4h) |
高溫升降溫(120℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) |
10 |
IEEE1513 |
85℃/85±2.5%(20h) |
-40℃(0.5~4h) |
高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) |
20 |
IEC62108 |
85℃/85±2.5%(20h) |
-40℃(0.5~4h) |
高溫升降溫(100℃/h) 低溫升降溫(200℃/h) |
20、40 |
Damp Heat(濕熱測試) 85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h ,目的:確定模組抵抗濕氣長期滲透之能力 |